高低溫老化箱/高低溫老化設(shè)備將高溫（高溫150℃、120℃、100℃）、低溫（-70℃、-60℃、-40℃、-20℃、0℃）試驗集在個箱體，對被測的lcd樣品進行測試老化，可以逼真的模擬自然溫度工況，本試驗箱用于測試和確定lcd、LED、電工、電器、電子、光電及其他產(chǎn)品及材料進行高溫、低溫或恒定溫度試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

高低溫老化箱/高低溫老化設(shè)備冷凍及風路循環(huán)系統(tǒng)：

制冷機采用法*“泰康”封閉壓縮機。冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計。采用多翼式送風機送風循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。升溫、降溫、加濕系統(tǒng)獨立可提率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。

風路循環(huán)出風回風設(shè)計，風壓、風速均符合測試標準，并可使開門瞬間溫濕度回穩(wěn)時間快。

高低溫老化箱/高低溫老化設(shè)備主要技術(shù)指標：
1 、溫度范圍：A:-20℃、B-40℃、C-50℃、D-60℃、E-70℃、F-80℃～+100(150)℃
2 、溫度波動度：±0.5℃
3 、溫度偏差：≤2℃
4 、升降溫速率：0.7～1℃/min

以上高低溫老化箱/高低溫老化設(shè)備參數(shù)不夠詳細，如需詳細報價方案及技術(shù)方案請東莞市愛佩試驗設(shè)備有限公司咨詢。