產(chǎn)品詳情

Product details

多層溫度老化試驗(yàn)箱該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
多層溫度老化試驗(yàn)箱按照下列標(biāo)準(zhǔn)或其結(jié)合為依據(jù)而制造：
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
多層溫度老化試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：
1.設(shè)備名稱：高低溫快溫變試驗(yàn)箱；
2.設(shè)備型號及內(nèi)箱尺寸（寬*高*深mm）：
AP-HX-80A（400*500*400）；AP-HX-150A（500*600*500）；AP-HX-225A（500*750*600）；
AP-HX-408A（600*850*800）；AP-HX-800A（1000*1000*800）；AP-HX-1000A（1000*1000*1000）；
3.顧客可選擇使用的溫度范圍有：A：0℃～+150℃（風(fēng)冷式）；B：-20℃～+150℃（風(fēng)冷式）；C：-40℃～+150℃（風(fēng)冷式）；D：-60℃～+150℃（風(fēng)冷式）；F：-70℃～+150℃（風(fēng)冷式）；
4.溫度波動度：±0.5℃；溫度解析精度：0.01℃；溫度均勻度：±2℃；濕度波動度：±1%RH；濕度均勻度：±3%RH；
5.本設(shè)備還可以配濕度功能，標(biāo)準(zhǔn)濕度范圍為：20%～98%RH（增加濕度功能只影響成本1000元左右，并不影響高低溫單獨(dú)溫變試驗(yàn)的效果）；
6.快溫變升溫的時間：RT～+150℃/40min（平均每分鐘升溫非線性空載約3度，如需要變溫更快請下單或者報(bào)價(jià)咨詢時說明）；
7.快溫變降溫的時間：RT～-40℃/60min（平均每分鐘降溫非線性空載約1度，如需要變溫更快請下單或者報(bào)價(jià)咨詢時說明）；
冷凍系統(tǒng)輔助件：過濾器（丹麥DANFOSS）;壓力控制器（丹麥DANFOSS）；膨脹閥（丹麥DANFOSS），電磁閥（日本）；截止閥（丹麥DANFOSS）；油分離器（歐美ALCO）等制冷配件均采用進(jìn)口件，因?yàn)楦叩蜏貙?shí)驗(yàn)（測試）箱的低溫制冷系統(tǒng)是 含技術(shù)難度及影響設(shè)備成本的 重要系統(tǒng)與功能，所以為了讓顧客感到物有所值，愛佩從不在成本上省錢。